機(jī)器視覺的作用是替代人眼完結(jié)需求由人來完結(jié)的測(cè)驗(yàn)丈量，而機(jī)器視覺光源，在機(jī)器視覺中起的作用，就類似于人類看物體需求有光照一樣。它的挑選直接影響輸入數(shù)據(jù)的質(zhì)量和運(yùn)用作用。因?yàn)闆]有通用的機(jī)器視覺照明設(shè)備，所以針對(duì)每個(gè)特定的運(yùn)用實(shí)例，要挑選適宜的光源，以到達(dá)最理想的運(yùn)用作用。

機(jī)器視覺需求運(yùn)用視覺光源將產(chǎn)品照亮（當(dāng)時(shí)干流的機(jī)器視覺光源為LED光源），而且要將咱們要求的特征照耀的更杰出，減輕后續(xù)算法的難度，進(jìn)步圖畫質(zhì)量。因?yàn)闄C(jī)器視覺光源直接影響到圖畫的質(zhì)量，進(jìn)而影響到體系的功能。所以一個(gè)成功的機(jī)器視覺體系體系，必需要挑選一個(gè)適宜的光源。

機(jī)器視覺LED光源，是機(jī)器視覺體系最為要害的部分之一，直接關(guān)系到視覺體系的成敗。而視覺光源首要起到的作用：

1. 照亮方針，進(jìn)步亮度。

2. 構(gòu)成有利于圖象處理的作用，杰出丈量特征。

3. 戰(zhàn)勝環(huán)境光攪擾，確保圖畫穩(wěn)定性。

4. 用作丈量的東西或參照物。

5. 獲取明晰的圖畫。

專用的LED光源，具有亮度可調(diào)、無暗影，亮度和色溫共同，且運(yùn)用壽命長等長處，充沛展示了低碳、環(huán)保、節(jié)能的理念，它已廣泛運(yùn)用于各個(gè)行業(yè)。PCB基板檢測(cè)、IC元件檢測(cè)、塑膠容器檢測(cè)、集成電路印字查看、零件尺度的丈量、膠片污點(diǎn)檢測(cè)、物體劃痕檢測(cè)、金屬外表查看、外表裂縫檢測(cè)、產(chǎn)品有無、顏色正確判斷，物品分類等等。

下面簡略介紹五種光源的常用范疇：

一、環(huán)型光源運(yùn)用

杰出物體的三維信息，高密度LED陣列，緊湊規(guī)劃，高亮度，可以節(jié)約光源裝置空間，處理了物體對(duì)角照耀暗影問題，可選配漫射板導(dǎo)光，光線均勻分散。檢測(cè)運(yùn)用分類：

1、檢測(cè)集成電路印字。

2、檢測(cè)印刷電路板上的零件。

3、檢測(cè)塑料蓋上的污點(diǎn)。

4、檢測(cè)PCB基板元件。

二、條型光源運(yùn)用

條形光源是由直插式LED陣列組成，尺度靈敏多變，可根據(jù)實(shí)踐需求定制。具有亮度高、裝置便利，結(jié)構(gòu)緊湊等長處。多個(gè)條形光源可自由組合，照耀視點(diǎn)也可自由調(diào)整，某些情況下可替代環(huán)形光。檢測(cè)運(yùn)用分類：

1、連接器引腳平坦度檢測(cè)。

2、檢測(cè)膠片和紙張包裝破損。

3、邊際缺點(diǎn)檢測(cè)。

4、脹大膠片、印刷字符破損檢測(cè)。

5、液晶零件的外表查看。

三、積分光源運(yùn)用

球積分光源是一種漫反射的無影光源，具有較大的光分散性，可以確保光源全方位照耀于被測(cè)物體上，關(guān)于外表崎嶇大，反光性強(qiáng)的物體也有很強(qiáng)的適用性。檢測(cè)運(yùn)用分類：

1、檢測(cè)金屬或塑膠品反光、不平坦的外表。

2、查看封蓋內(nèi)部和底部的臟污。

3、檢測(cè)電路板元件。

4、檢測(cè)IC芯片上的印刷字符。

5、焊接檢測(cè)。

四、同軸光源運(yùn)用

同軸光源可以凸顯物體外表不平坦，戰(zhàn)勝外表反光造成的攪擾，將漫反射將光源發(fā)散分發(fā)到半反射半透的分光片中。高密度擺放的LED光源，具有亮度高、穩(wěn)定性、運(yùn)用壽命長、成像明晰，亮度均勻扥特色。檢測(cè)運(yùn)用分類：

1、檢測(cè)膠片和芯片的完好度。

2、檢測(cè)金屬，玻璃等光亮外表的劃傷

3、芯片和硅晶片的破損檢測(cè)

4、檢測(cè)玻璃板的裂紋和異物

5、條碼辨認(rèn)

五、背光源運(yùn)用

底部背光源選用高亮LED顆粒、散熱結(jié)構(gòu)型材、漫射導(dǎo)光板，光線透過分散板從被測(cè)物體后面照耀，提供高明晰度的概括。具有亮度高、均勻性好、功耗低一級(jí)特色，有用確保了光源超長的壽命。檢測(cè)運(yùn)用分類：

1、用于物體概括檢測(cè)。

2、食品包裝袋上日期的檢測(cè)。

3、檢測(cè)透明膠片等的污點(diǎn)。

4、檢測(cè)芯片外表字符。

5、金屬工件外表高亮、反光物品的檢測(cè)。

6、半導(dǎo)體的外觀檢測(cè)和尺度丈量。